平成17年度 電気・情報関連学会中国支部第56回連合大会

2005年10月22日(土)

部門: 2. プラズマ・放電・高電圧 II (13:00 - 14:18)
部屋: 1号館 01211 (→地図)
座長: 山崎 勉 (呉高専)

2-6 (時間: 13:00 - 13:13)

題名	モノクロCCDカメラを用いたプラズマプロセス診断装置の開発(II)
著者	*崎山 智司, 山元 春香, 福政 修 (山口大)
Page	p. 74
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2-7 (時間: 13:13 - 13:26)

題名	粒子シミュレーションによる２次元シース不安定性の研究
著者	*佐々木 謙一, 内藤 裕志, 田内 康, 福政 修 (山口大)
Page	p. 75
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2-8 (時間: 13:26 - 13:39)

題名	正、負イオンビーム引き出し特性における粒子シミュレーション
著者	*山根 初仁, 内藤 裕志, 福政 修 (山口大)
Page	p. 76
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2-9 (時間: 13:39 - 13:52)

題名	セシウム添加型負イオン源における引出し確率を用いた引出し負イオン密度の評価
著者	*西田 亮, 福政 修 (山口大)
Page	p. 77
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2-10 (時間: 13:52 - 14:05)

題名	負イオン源単孔からの負イオン引出し確率
著者	*橋本 圭令, 西田 亮, 福政 修 (山口大)
Page	p. 78
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2-11 (時間: 14:05 - 14:18)

題名	重水素負イオン源における真空紫外放射と負イオン体積生成の相関関係
著者	*森 成史, 福政 修 (山口大)
Page	p. 79
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