2005年10月22日(土) |
題名 | Ge1-xMnxTe微小細線の作製と磁気抵抗効果 |
著者 | *森本 一幸 (山口大), 福間 康裕 (山口県産業技術センター), 浅田 裕法, 小柳 剛 (山口大) |
Page | p. 433 |
keywords | 希薄磁性半導体, 細線, 磁化反転 |
題名 | PLD法で作製したZnxCd1-xS薄膜の光学測定 |
著者 | *中村 亮仁, 酒井 恒 (広島国際学院大) |
Page | p. 434 |
keywords | CdS, ZnS, PLD, 薄膜, バンドギャップ |
題名 | 非対称な人工ピンニングセンターによるピン止め特性の検討 |
著者 | *萩原 雅之, 何 継方, 原田 直幸, 内藤 裕志 (山口大) |
Page | p. 435 |
keywords | 超伝導材料, 臨界電流, ピン止め |
題名 | 微細加工により導入した溝状人工ピンの磁化緩和特性 |
著者 | *中川 貴文, 安田 俊朗, 原田 直幸, 内藤 裕志 (山口大) |
Page | p. 436 |
keywords | 超伝導材料, 臨界電流密度, 微細加工, 磁化特性 |
題名 | Mgフレークを用いたin-situ法MgB2テープ線材の作製 |
著者 | *日野 保明, 武政 博行, 原田 直幸, 内藤 裕志 (山口大), 三浦 大介, 伊藤 大佐 (首都大学東京) |
Page | p. 437 |
keywords | MgB2, in-situ法, 臨界温度, 臨界電流密度 |